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压力分布决定结果的那些界面

目前有两个场景出了中文版:散热器热界面,以及半导体 CMP 抛光头。风电结构件的三个场景——叶片表面、胶接线、螺栓法兰——暂时只有英文版,可以点过去看,内容是一样的实测口径。

怎么选

如果被测表面不在上面的列表里

方法不看行业,只看三个数:表面多大、要分辨的特征多细、压得多紧。下面三张卡说的是标准大面积配置;电子与 CMP 走的是另一个区间——毫米级点距、几百千帕、阵列轮廓按工件定制。

面积

最大 1040 × 2480 mm

三个标准配置覆盖这个范围。更大的靠加片,代价是接缝变多。小的反过来:按工件轮廓定制阵列。

分辨率

标准 7.6 × 8.1 mm,定制约 1.4 mm

490 × 520 mm 一片 4096 点是标准点距。电子与 CMP 的阵列做到 ≥50 点/cm²,约 1.4 mm——不同的产品,不同的工装。

压力

标准 400–6000 kPa,可向下定制

超过约 6 MPa 标准薄膜会饱和。低于 400 kPa——散热器、CMP 抛光头——低压量程是独立一项,有自己的标定。

描述你的被测表面 全部规格